OMRON NT2000M-DT131 BICOLOR INTERACTIVE DISPLAY 

SIEMENS HNF261S HEAVY DUTY SAFETY SWITCH 30AMP NNB

AEG/GOULD/MODIC?ON/SCHNEIDER AS-C484-265 MAINFRAME CONTR

FANUC A20B-1000-0570-?R PC BOARD RFB

RELIANCE 6V41-5P0TA AC DRIVE 3HP NIB

TOSHIBA TOSVERT VT130G1-4055BOE TRANSISTOR INVERTER 

ALLEN BRADLEY 1336S-BRF15-AA-?EN4-HA2-L6 AC VECTOR DRIVE

RELIANCE 6SP447P5/6SP44X?-011CTAN SP600 7.5HP DRIVE X

SIEMENS 6SE1-107-3AA02/?6SE1107-3AA02 SIMOVERT XLNT

　當進行不良品分析時，應注意“老化率”差的晶體其參數(shù)也會隨時間的變化而變化。但是，“老化率”不好的晶體，是不會有被外界作用而激活的現(xiàn)象。有些晶體可能不好的原因可能有兩種情況:一是老化性能差;一是晶體DLD性能差。

　　d.   " Fs穩(wěn)定”，"FL不穩(wěn)定”的晶體:

　　有些晶體當測試FL時，"Unstable"，但是，當測試Fs或Fr時，有能夠穩(wěn)定振蕩。這類情況大都是晶體的DLD問題。當遇到這類問題，可用KH1200的DLD圖形掃描功能，便可得到這類晶體的DLD特性(注意以上的b點)。