光學(xué)測(cè)量儀器和光學(xué)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)

可進(jìn)行相干測(cè)量的光頻譜分析儀

■相干測(cè)量

■1.5 秒/掃描的高速測(cè)量

■波長范圍寬，從 0.35 微米到 1.75 微米

■波長測(cè)量精度為 0.1 納米

Q8344A 是一款光學(xué)光譜分析儀，波長范圍寬達(dá) 0.35 至 1.75 μm。

通過使用邁克爾遜干涉儀的傅立葉光譜系統(tǒng)，可以分析使用單色器的分散光譜系統(tǒng)無法獲得的相干性。

它展示了評(píng)估光盤和視頻磁盤激光二極管的能力。

光學(xué)測(cè)量儀器和光學(xué)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)置 He-Ne 激光器用作參考波長，波長精度為 ± 0.1 nm (1.3 μm)，即使不進(jìn)行波長校準(zhǔn)，也能確保長期測(cè)量的穩(wěn)定性。

Q8344A 的大波長分辨率為 0.05 nm（0.85 μm），適合測(cè)量模式間隔較窄的激光二極管。

測(cè)量速度約為 1.5 秒（0.4 至 1.05 μm 和 0.8 至 1.75 μm），與分析跨度無關(guān)，因此可作為系統(tǒng)組件使用。

Q8344A 具有多功能顯示、分析和處理功能，可用于各種元件的特性測(cè)量應(yīng)用，從激光二極管和 LED 等發(fā)光元件到光纖和濾波器等光學(xué)元件。

相干測(cè)量

由于 Q8344A 使用邁克爾遜干涉儀，因此可用于相干性測(cè)量。通過這一功能，可以輕松評(píng)估視頻磁盤激光二極管回光引起的噪聲抑制性能。

分析范圍約為±10 毫米，可以測(cè)量光纖陀螺使用的 SLD（超級(jí)發(fā)光二極管）的相干長度。

1.5 秒/掃描的高速測(cè)量

非常適合生產(chǎn)應(yīng)用

Q8344A 采用傅立葉光譜系統(tǒng)，因此無論測(cè)量跨度和靈敏度如何，都能在 1.5 秒內(nèi)完成測(cè)量（前提是起始波長為 0.4 μm 或更長，且測(cè)量不同時(shí)覆蓋短波長和長波長）。

因此，該分析儀適用于在生產(chǎn)線上測(cè)量激光二極管和發(fā)光二極管。此外，還可用于評(píng)估光纖和濾波器的傳輸和損耗特性。

作為系統(tǒng)組件使用時(shí)，分析儀只需 1.5 秒即可完成觸發(fā)、測(cè)量和數(shù)據(jù)輸出，地提高了系統(tǒng)吞吐量。

波長測(cè)量精度為 ± 0.1 nm

使用內(nèi)置 He-Ne 激光器作為參考光源，測(cè)量波長精度高達(dá) ± 0.1 nm（波長為 1.3 μm）。

因此，無需波長校準(zhǔn)即可進(jìn)行的波長測(cè)量。

大波長范圍為 0.05 nm

Q8344A 在短波長（0.85 μm）時(shí)的大分辨率為 0.05 nm，因此可以通過逐個(gè)完全解析振蕩模式來測(cè)量 CD 和可見光激光二極管。

大口徑光纖輸入（選件）

可選配 200 μm 大口徑輸入。在分析波長大于標(biāo)準(zhǔn)光纖口徑（GI 50 μm）的設(shè)備時(shí)，需要使用該選件。

對(duì)于激光二極管分析，建議使用標(biāo)準(zhǔn) 50 μm 規(guī)格，而對(duì)于 LED 分析，建議使用此選配規(guī)格。