140CFJ00400 Quantum
基于深度學(xué)習(xí)的織物疵點(diǎn)檢測方法相比傳統(tǒng)的方法，雖然具有檢測速率快，誤檢率低，檢測精度高等優(yōu)點(diǎn)， 但這些方法是依賴于大量的訓(xùn)練數(shù)據(jù)庫基礎(chǔ)之上的。只有在訓(xùn)練階段包含了盡量多的織物疵點(diǎn)圖像，盡可能的把每種疵點(diǎn)的類型都輸入訓(xùn)練網(wǎng)絡(luò)，這樣對于網(wǎng)絡(luò)模型來說，才能反復(fù)的熟悉疵點(diǎn)的“模樣”，即獲得疵點(diǎn)位置的特征信息，從而記住疵點(diǎn)的特征信息，以在以后的檢測過程中可以更快更準(zhǔn)的檢測到疵點(diǎn)的位置并標(biāo)識(shí)。
首先搭建由光源、 鏡頭、相機(jī)、 圖像處理卡及執(zhí)行機(jī)構(gòu)組成的織物圖像采集系統(tǒng)，然后基于本系統(tǒng)，采集破洞、油污、起毛不均、漏針、撐痕、粗節(jié)等規(guī)模的織物疵點(diǎn)圖像，并通過轉(zhuǎn)置、 高斯濾波、圖像增強(qiáng)等操作擴(kuò)充織物圖像，構(gòu)建了織物圖像庫，為后續(xù)深度學(xué)習(xí)提供了樣本支撐。
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